工业用颗粒度仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。工业用颗粒度仪是一种高性能的的颗粒度仪。系统包括激光粒度仪、自动干粉进样器、干粉分散器、静音空压机、空气过滤器、样品收集器等部分组成。工业用颗粒度仪在干法状态下，样品通过自动干粉进样器均匀输送到高压气流中，在高压气流的带动下连续高速喷射到分散器中，在到达分散器出口处样品已经被充分分散，穿过工业用颗粒度仪的激光束之后样品进入收集器中，同时电脑立刻显示出粒度分布信息。 工业用颗粒度仪仪器特点： ●测试范围宽 由于工业用颗粒度仪采用了大尺寸光电探测阵列(70个通道)、侧向辅助光电探测阵列(12个通道)及其它相应技术，使单透镜测试范围达到0.1---450微米；并且由于本仪器使用过程中无须更换镜头及调整光学系统，提高了系统的稳定性，简化了操作过程。 ●重复性好 工业用颗粒度仪采用Furanhofer衍射及Mie散射理论,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。而且区别于沉降法,由于不需要沉降过程，因此在一次测试中可以多次采样(5-20次任意设定)，有效的滤除了由于电噪声，样品分布不均等因素造成的影响，使仪器的测试重复性变好。 ●采用半导体激光发生器 工业用颗粒度仪具有光参数稳定、效率高、寿命长、不怕振动等一系列优点，克服了传统气体激光器由于自然漏气，需定期更换的缺点。 ●自动化程度高操作简单 工业用颗粒度仪采用微机进行实时控制，自动完成数据采集、分析处理、结果保存、打印等功能,操作简单,自动化程度高。 工业用颗粒度仪颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。 工业用颗粒度仪无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级，给设备本身提出很高的要求。工业用颗粒度仪采用最优的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级，从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。 良好的屏蔽处理使超声分散和样品测试可同时进行，即使具有超强团聚性的颗粒也能够充分分散以获得真实的粒度分布数据。